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西門子數位工業軟體今日宣布推出 Tessent™ IJTAG Pro 軟體，透過將傳統序列式 IJTAG（IEEE 1687）測試流程轉換為高頻寬平行操作，不僅能提供對自訂硬體的讀寫存取，更藉由與 Tessent Streaming Scan Network (SSN) 軟體的整合，大幅提升測試數據傳輸效率。此舉被視為晶片設計邁向 2.5D 與 3D IC 架構後，測試領域的一大突破。
測試挑戰與解決方案
隨著晶片由平面 2D 邁向先進的 2.5D 與 3D 疊層架構，測試難度呈指數成長。測試樣本數暴增、應用時間拉長、自動測試設備（ATE）成本上升，再加上測試針腳數量有限，讓測試成為影響設計週期與成本控制的關鍵瓶頸。西門子指出，Tessent IJTAG Pro 能利用 SSN 架構將傳統序列式測試轉換為高頻寬平行處理，有效縮短測試時間並降低相關成本，並能在單一晶粒（chiplet）與完整 3D IC 封裝層級帶來顯著節省。
半導體設計正加速進入異質整合與 3D 封裝時代，測試不再是附屬流程，而是決定產品良率與上市時程的戰略環節。西門子此次的軟體創新，不僅解決了業界對 測試可擴展性 的迫切需求，也為 Google 等大型雲端與運算公司提供了更快測試混合訊號與內建自測（BIST）的新方式。
從更宏觀的角度來看，Tessent IJTAG Pro 象徵測試領域的數位轉型：透過平行化與數據流優化，讓測試不再成為設計進化的絆腳石，而是推動 3D IC 時代競爭力的關鍵工具。對全球晶片廠而言，這項技術不僅是軟體升級，更是降低成本、縮短週期、搶佔市場的必備利器。（原文出處）
